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牛津X-Strata920测厚仪您想了解的工作原理
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产品: 浏览次数:256牛津X-Strata920测厚仪您想了解的工作原理 
品牌: 牛津
尺寸: 610*1027*375mm
单价: 250000.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 10 台
发货期限: 自买家付款之日起 16 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2019-12-20 11:58
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详细信息
  牛津X-Strata920测厚仪工作原理:

什麽是X射线,X射线是和可见光线一样也是电磁波的一种,不同的是它的波长较之可见光为短,在100Å到0.1Å之间。同时,与一般的电磁波相比,X射线能够比较容易的穿透物质,其穿透强度是随包含在物质里的原子的原子序号变小而增加。荧光X射线分析是利用X射线照射在物质上时,发生的固有的X射线(荧光X射线)的方法而设计的。荧光X射线照射在物质上,构成的物质其原子的内核电子受到X射线的轰击,能量增加,于是内层电子向外层迁移,同时外层电子向内层迁移,由于外层电子所具能量高,在向内层迁移时,便放出能量,此剩余的能量以电磁场的形式放出,既为荧光X射线。

X-Strata920系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版Smartlink FP应用软件包,实现了对X-Strata920主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数
据分析模式

 

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